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相關(guān)文章DP-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。
強(qiáng)迫對(duì)流空氣橫掠平板放熱系數(shù)測試裝置實(shí)驗(yàn)?zāi)康模? 測定空氣橫向流過平板表面時(shí)的放熱系數(shù);根據(jù)對(duì)受強(qiáng)迫運(yùn)動(dòng)放熱過程的相似分析,將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)整理成準(zhǔn)則方程式。