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數(shù)字式四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀

更新時(shí)間:2013-09-27點(diǎn)擊次數(shù):1670

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀

型號(hào):DP-ST2258A

數(shù)字式四探針測(cè)試儀概述

  DP-ST2258A型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。

  本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能,zui大分類10類

  儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng);測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

數(shù)字式四探針測(cè)試儀基本參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率

電    阻:     1.0×10-3 ~ 200.0×10Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10Ω

電 阻 率:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω-cm

方塊電阻:     10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ~ 0.1×103  Ω/□

2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸

直        徑:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

長(zhǎng)(或)度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級(jí)

 

量程

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

誤差

±0.5%FSB±1LSB(在各量程范圍內(nèi)),量程或欠量程可測(cè)量,但誤差將隨欠程度而變大

 

4) 作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W

5) 外形尺寸:W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

凈   重:≤1kg